・近〜中波赤外域で高い透過性と導電性を両立する電極と、赤外線を効率よく吸収する半導体材料を組み合わせることで、これまで室温では困難だった3μm(マイクロメートル)帯までの赤外光を検出可能な小型センサーを試作した。
・Ge(ゲルマニウム)基板上に、Sn固溶限界を超える13.6%のSnを含有した高品質p型GeSn層の結晶成長に成功し、波長3μm帯の感度を実現した。
・本小型センサー(フォトダイオード)は、一つの素子で通信波長(1.55μm付近)から3μm付近までの赤外光を検出でき、ガス検知だけでなく、環境モニタリング、ヘルスケア(呼気分析)、食品・医薬品の品質管理、産業プロセス監視、赤外イメージング、さらにはセキュリティ用分光センシングなど、幅広い用途への展開が期待できる。
名古屋大学大学院工学研究科の中塚 理 教授、柴山 茂久 助教らの研究グループと日本電気株式会社(NEC)の田中 朋 博士らは、産業技術総合研究所(産総研)・先端半導体研究センターの前田 辰郎 博士、Rahmat Hadi Saputro(ラハマト ハディ サプトロ)博士らとの共同研究で、Si集積回路プロセス技術と相性の良いゲルマニウム錫(GeSn)注1)/ゲルマニウム(Ge)接合赤外センサーを新たに開発しました。
近〜中波赤外域で高い透過性と導電性を両立するiTCO(infrared-transparent conductive oxide)電極と赤外光を効率よく吸収するGeSn材料を組み合わせることで、室温で3μm帯までの赤外光を検出可能な小型センサーを試作しました。名古屋大学で開発した低温MBE法注2)により、Ge基板上にSnの平衡固溶限界を超える13.6%の高Sn組成p型GeSn混晶層の高品質なエピタキシャル成長に成功し、3μm帯の感度を持つ狭ギャップ半導体薄膜を実現しました。産総研で試作、検証したiTCO/p型GeSn/n型Geフォトダイオードの特性評価からは、一つの素子で通信波長(1.55μm付近)から3μm付近までをカバーできることが実証されました。
本研究で開発された半導体材料や素子構造の活用によって、ガス検知だけでなく、環境モニタリング、ヘルスケア(呼気分析)、食品・医薬品の品質管理、産業プロセス監視、赤外イメージング、さらにはセキュリティ用分光センシングなど、幅広い用途への展開が期待できます。
本研究成果は、2026年5月20日(現地時間)に国際会議Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO)において講演発表されます。
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注1)ゲルマニウム錫(GeSn)混晶:
GeとSnが混ざりあった結晶。通常、常温・常圧でSi、Ge、SiGe混晶などと同様のダイヤモンド型の結晶構造を取る。Geよりも狭いバンドギャップ、10%程度以上のSn組成で直接遷移化する特徴を持ち、近年、赤外線受発光デバイスをはじめ、様々な電子デバイスへの応用が期待されて、世界中で研究開発が進められている。
注2)低温MBE法:
MBE(Molecular Beam Epitaxy、分子線エピタキシー)法とは、超高真空中における加熱融解、昇華によって生じる原料分子(原子)ビームを、加熱した試料基板表面に付着させ、基板表面の結晶構造を引き継いだ結晶成長(エピタキシャル成長と呼ぶ)を促し、薄膜を形成する方法。今回、基板温度を低温化することで、Sn析出を抑制したGeSn混晶層のエピタキシャル成長を実現した。
会議・イベント名:Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO)
https://cleoconference.org/
会期:2026年5月17日~5月21日
開催地:米国ノースカロライナ州Charlotte
発表タイトル:Epitaxially Grown GeSn on Ge with Infrared-Transparent Conductive Oxide for Mid-Wave Infrared Photodetectors
発表者名:Rahmat Hadi Saputro, Tomo Tanaka, Hiroyuki Ishii, Shota Torimoto, Kaito Shibata, Yoshiki Kato, Shigehisa Shibayama, Masashi Kurosawa, Osamu Nakatsuka, and Tatsuro Maeda
発表日:2026年5月20日
予稿集:有(公開日:2026年5月17日)
※下線は名古屋大学教員(柴山、黒澤、中塚)、および大学院生(鳥本、柴田、加藤。一部は当時)。
大学院工学研究科 中塚 理 教授
https://alice.xtal.nagoya-u.ac.jp/nanoeledev/